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Year : 2020
Moncef KADI : Connect in order to contact the contributor
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02933542
Submitted on : Tuesday, September 8, 2020-3:05:47 PM
Last modification on : Thursday, March 10, 2022-10:46:02 AM
Dates and versions
Identifiers
- HAL Id : hal-02933542 , version 1
Cite
Samh Khemiri, Moncef Kadi. Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique. Les systèmes mécatroniques embarqués - 1 : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, ISTE - Edition, 2020, 9781784056476. ⟨hal-02933542⟩
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