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Habilitation à diriger des recherches

CARACTÉRISATION ET MODÉLISATION DES PHÉNOMÈNES RADIATIFS EN CHAMP PROCHE DES COMPOSANTS ET DES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES

Z. Riah 1, 2
1 Pôle Electronique et Systèmes
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
2 ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique
Keywords : EMC-Near field measurement-Near field modeling-radiated emission-conducted emission
Document type :
Habilitation à diriger des recherches
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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/tel-02435179
Contributor : Zouheir Riah <>
Submitted on : Friday, January 10, 2020 - 4:02:58 PM
Last modification on : Monday, October 19, 2020 - 11:08:37 AM

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  • HAL Id : tel-02435179, version 1

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Citation

Z. Riah. CARACTÉRISATION ET MODÉLISATION DES PHÉNOMÈNES RADIATIFS EN CHAMP PROCHE DES COMPOSANTS ET DES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES. Electronique. Université de Rouen, 2015. ⟨tel-02435179⟩

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