CARACTÉRISATION ET MODÉLISATION DES PHÉNOMÈNES RADIATIFS EN CHAMP PROCHE DES COMPOSANTS ET DES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES

Z. Riah (1, 2)

1 Pôle Electronique et Systèmes
2 ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique

Keywords: EMC-Near field measurement-Near field modeling-radiated emission-conducted emission

Keywords: CEM-mesure en champ proche-modélisation du champ proche-émissions rayonnées-émissions conduites

Domains: Engineering Sciences [physics]; Electronics; Engineering Sciences [physics]; Electromagnetism

Z. Riah. CARACTÉRISATION ET MODÉLISATION DES PHÉNOMÈNES RADIATIFS EN CHAMP PROCHE DES COMPOSANTS ET DES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES. Electronique. Université de Rouen, 2015. ⟨tel-02435179⟩