A. L. Allred, J. Inorg. Nucl. Chem, vol.17, 1961.

E. Alves, N. Franco, N. P. Barradas, F. Munnik, T. Monteiro et al., , vol.83, 1274.

H. Amano, M. Kito, K. Hiramatsu, and I. Akasaki, Jpn. J. Appl. Phys, vol.28, p.2112, 1989.

M. Bachhav, R. Danoix, F. Danoix, B. Hannoyer, S. Ogale et al., Ultramicroscopy, vol.111, p.584, 2011.

M. Balestrieri, G. Ferblantier, S. Colis, G. Schmerber, C. Ulhaq-bouillet et al., Sol. Energy Mater. Sol. Cells, vol.117, p.363, 2013.

M. Balestrieri, Transparent conductive oxides with photon converting properties in view of photovoltaic applications : the cases of rare earth-doped zinc oxide and cerium oxide
URL : https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01132180

. Strasbourg, , 2014.

P. Bas, A. Bostel, B. Deconihout, and D. Blavette, Appl. Surf. Sci, p.298, 1995.

A. Behrends, A. Bakin, A. Waag, and M. J. , , vol.40, p.280, 2009.

A. Behrends, A. Wagner, M. A. Al-suleiman, and H. ,

M. Lugauer, R. Strassburg, A. Walter, A. Weimar, A. Waag et al., Phys. Status Solidi A, vol.209, p.708, 2012.

V. Bhavanasi, C. B. Singh, D. Datta, V. Singh, K. Shahi et al.,

. Kumar, Opt. Mater, vol.35, p.1352, 2013.

H. Blumtritt, D. Isheim, S. Senz, D. N. Seidman, and O. ,

. Moutanabbir, Nanotechnology, vol.25, p.435704, 2014.

C. Bundesmann, N. Ashkenov, M. Schubert, D. Spemann, and T. ,

E. M. Butz, M. Kaidashev, M. Lorenz, and . Grundmann, Appl. Phys. Lett, vol.83, 1048.

E. Cadel, F. Vurpillot, R. Lardé, S. Duguay, and B. Deconihout, J. Appl. Phys, vol.106, p.44908, 2009.

L. Cao, L. Zhu, J. Jiang, R. Zhao, Z. Ye et al., Sol. Energy Mater. Sol. Cells, vol.95, 1985.

A. Cerezo, C. R. Grovenor, and G. D. Smith, Appl. Phys. Lett, vol.46, p.567, 1985.

A. Çetin, R. Kibar, M. Ayvac?kl?, Y. Tuncer, C. Buchal et al.,

T. Townsend, S. Karali, N. Selvi, and . Can, Surf. Coat. Technol, vol.201, 2007.

A. Cetin, R. Kibar, S. Selvi, P. D. Townsend, and N. Can, Phys. B Condens. Matter, vol.404, p.492, 2009.

W. Chen, Modélisation de la croissance des nanofils de Si et métrologie à l'échelle atomique de la composition des nanofils. phdthesis, 2004.

J. Chen, Z. Feng, P. Ying, M. Li, B. Han et al., Phys. Chem. Chem. Phys, vol.6, p.4473, 2004.

Y. , , 2009.

Y. J. Chen, C. H. Ho, H. Y. Lai, and J. H. Du, JOM, p.23, 2009.

Y. , , 2011.

Y. M. Chen, T. Ohkubo, and K. Hono, Ultramicroscopy, vol.111, 2011.

D. Chen, Y. Wang, and M. Hong, Nano Energy, p.73, 2012.

M. , , 2010.

M. Chen, M. Lu, Y. Wu, J. Song, C. Lee et al.,

Y. Lu, L. Chang, Z. L. Chou, L. Wang, and . Chen, Nano Lett, vol.10, p.4387, 2010.

E. Chikoidze, M. Modreanu, V. Sallet, O. Gorochov, and P. ,

P. Galtier, Status Solidi A, vol.205, 1575.

S. Cho, ;. S. Park, J. H. Chu, L. J. Lim, Z. Mandalapu et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.50, p.105502, 2007.

R. Cuscó, E. Alarcón-lladó, J. Ibáñez, L. Artús, J. Jiménez et al., Phys. Rev. B, vol.75, 2005.

G. D. Costa, F. Vurpillot, A. Bostel, M. Bouet, and B. ,

. Deconihout, Rev. Sci. Instrum, vol.76, p.13304, 2005.

N. Dawahre, G. Shen, S. Balci, W. Baughman, D. S. Wilbert et al., J. Electron. Mater, vol.41, p.801, 2012.

U. V. Desnica, Prog. Cryst. Growth Charact. Mater, vol.36, p.291, 1998.

A. Devaraj, R. Colby, W. P. Hess, D. E. Perea, and S. ,

;. S. Thevuthasan, P. K. Dhara, and . Giri, J. Phys. Chem. Lett, vol.4, p.5000, 2012.

D. R. Diercks, B. P. Gorman, R. Kirchhofer, N. Sanford, and K. ,

M. Bertness, ;. S. Brubaker-;-r.-dingle, M. Duguay, P. F. Ngamo, F. Fazzini et al., Phys. Rev. Lett, vol.114, 1969.

J. C. Fan, Z. Xie, Q. Wan, and Y. G. Wang, J. Cryst. Growth, vol.307, 2005.

Z. B. Fang, Y. S. Tan, H. X. Gong, and C. M. Zhen,

. Wang, Mater. Lett, vol.59, 2005.

F. Fang, D. X. Zhao, J. Y. Zhang, D. Z. Shen, Y. M. Lu et al.,

B. H. Fan, X. H. Li, and . Wang, Mater. Lett, vol.62, 1092.

X. Fang, J. Li, D. Zhao, D. Shen, B. Li et al., J. Phys

, Chem. C, vol.113, 2009.

F. Friedrich and N. H. Nickel, Appl. Phys. Lett, vol.91, p.111903, 2007.

F. Friedrich, M. A. Gluba, and N. H. Nickel, Appl. Phys. Lett, vol.95, 2006.

B. Gault, F. Vurpillot, A. Vella, M. Gilbert, A. Menand et al.,

B. Blavette and . Deconihout, Rev. Sci. Instrum, vol.77, p.43705, 2006.

B. Gault, M. P. Moody, J. M. Cairney, and S. P. Ringer, Atom Probe Microscopy, 2012.
URL : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01838923

M. Gilbert, F. Vurpillot, A. Vella, H. Bernas, and B. Deconihout, Ultramicroscopy, vol.107, p.341, 1959.

C. R. Grovenor and G. D. Smith, Surf. Sci, vol.123, p.686, 1982.

A. Hafdallah, F. Yanineb, M. S. Aida, and N. Attaf, J. Alloys Compd, vol.509, 2009.

L. Hanfa, Z. Huafu, L. Chengxin, Y. Changkun, and J. Semicond, , 2009.

D. M. Hofmann, A. Hofstaetter, F. Leiter, H. Zhou, and F. ,

B. K. Henecker, S. B. Meyer, J. Orlinskii, P. G. Schmidt, and . Baranov, Phys. Rev. Lett, vol.88, p.45504, 2002.

H. Hosono, H. Ohta, K. Hayashi, M. Orita, and M. Hirano, J. Cryst. Growth, p.496, 2002.

D. Huang, X. Zeng, Y. Zheng, X. Wang, and Y. Yang, Front. Optoelectron, vol.6, p.114, 2013.

S. Huang, Y. Chen, X. Wei, and M. Yin, J. Nanosci. Nanotechnol, vol.14, p.4574, 2014.

Y. Huang, W. Zhou, and P. Wu, Solid State Commun, vol.183, p.31, 2014.

K. Inoue, F. Yano, A. Nishida, H. Takamizawa, and T. ,

Y. Tsunomura, M. Nagai, and . Hasegawa, Ultramicroscopy, vol.109, 1479.

J. Pearton, W. S. Lopata, and . Hobson, Appl. Phys. Lett, vol.87, p.222113, 2005.

A. Janotti, C. G. De-walle, ;. S. Jeong, and J. H. Boo, Rep. Prog. Phys, vol.72, p.105, 2000.

M. Kalin, J. Vi?intin, J. Vleugels, O. Van-der, and . Biest, Mater. Sci. Eng. A, vol.281, 2000.

R. Kanjolia, A. C. Jones, S. Ashraf, J. Bacsa, K. Black et al.,

P. Chalker, S. Beahan, R. Hindley, P. A. Odedra, P. N. Williams et al., J. Cryst. Growth, vol.315, 2011.

. Wu, Appl. Phys. Lett, vol.104, 2010.

J. P. Kar, S. N. Das, J. H. Choi, T. I. Lee, and J. M. Myoung, Appl. Surf. Sci, vol.256, p.4995, 2010.

A. Kaschner, U. Haboeck, M. Strassburg, M. Strassburg, G. Kaczmarczyk et al.,

D. M. Alves, B. K. Hofmann, and . Meyer, Appl. Phys. Lett, vol.80, 1909.

G. L. Kellogg, Appl. Surf. Sci, p.186, 1982.

G. L. Kellogg and T. T. Tsong, J. Appl. Phys, vol.51, 1184.

L. L. Kerr, X. Li, M. Canepa, and A. J. Sommer, Thin Solid Films, vol.515, p.5282, 2007.

D. Kim, T. Shimomura, S. Wakaiki, T. Terashita, and M. Nakayama, Phys. B Condens. Matter, p.741, 2006.

D. C. Kim, W. S. Han, B. H. Kong, H. K. Cho, and C. H. Hong, Phys. B Condens. Matter, vol.386, p.171902, 2007.

D. R. Kingham, Surf. Sci, vol.116, 1982.

T. Kinno, M. Tomita, T. Ohkubo, S. Takeno, and K. Hono, Appl. Surf. Sci, vol.290, p.194, 2014.

R. Kirchhofer, M. C. Teague, and B. P. Gorman, J. Nucl. Mater, vol.436, p.23, 2013.

C. Kittel, Introduction to Solid State Physics, 2004.

C. F. Klingshirn, Zinc Oxide: From Fundamental Properties Towards Novel Applications

;. A. Springer, G. Kohan, D. Ceder, C. G. Morgan, and . Van-de-walle, Phys. Rev. B, vol.120, p.15019, 2000.

J. Kong, S. Chu, M. Olmedo, L. Li, Z. Yang et al., Appl. Phys. Lett, vol.93, 2008.

V. Kumar, S. Som, V. Kumar, V. Kumar, and O. ,

E. Ntwaeaborwa, H. C. Coetsee, and . Swart, Chem. Eng. J, vol.255, 2014.

V. Kumar, V. Kumar, S. Som, M. M. Duvenhage, and O. ,

H. C. Ntwaeaborwa and . Swart, Appl. Surf. Sci, vol.308, p.419, 2009.

R. Lardé, L. Lechevallier, A. Zarefy, A. Bostel, J. Juraszek et al., J. Appl. Phys, vol.105, p.84307, 2009.

R. Lardé, E. Talbot, P. Pareige, H. Bieber, G. Schmerber et al.,

V. Colis, A. Pierron-bohnes, and . Dinia, J. Am. Chem. Soc, vol.133, 1451.

J. Y. Lee, J. H. Lee, H. Kim, C. Lee, H. Ahn et al., Thin Solid Films, vol.517, p.5157, 2009.

S. Limpijumnong, S. B. Zhang, S. Wei, and C. H. Park, Phys. Rev. Lett, vol.92, 2001.

B. Lin, Z. Fu, and Y. Jia, Appl. Phys. Lett, vol.79, 1992.

M. Liu, A. H. Kitai, and P. Mascher, J. Lumin, vol.54, 1992.

D. C. Look, Mater. Sci. Eng. B, vol.80, 2001.

D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, R. L. Jones, and D. B. ,

G. Eason and . Cantwell, Appl. Phys. Lett, vol.81, 1830.

D. C. Look and B. Claflin, Phys. Status Solidi B, vol.241, 2004.

D. C. Look, G. C. Farlow, P. Reunchan, S. Limpijumnong, S. B. Zhang et al., Phys. Rev. Lett, vol.95, 2005.

D. C. Look, In Zinc Oxide Bulk, Thin Films and Nanostructures, pp.21-42, 2006.

J. Lü, K. Huang, J. Zhu, X. Chen, X. Song et al., Phys. B Condens. Matter, vol.405, p.3167, 2009.

J. L. Lyons, A. Janotti, and C. G. De-walle, Appl. Phys. Lett, vol.95, 2001.

T. Makino, Y. Segawa, M. Kawasaki, A. Ohtomo, R. Shiroki et al., Appl. Phys. Lett, vol.78, p.1237, 2001.

L. Mancini, N. Amirifar, D. Shinde, I. Blum, M. Gilbert et al.,

X. Pareige, A. Portier, C. Ziani, C. Davesnne, J. Durand et al., J. Phys. Chem. C, 2014.

. -shui, , 2007.

L. Mao-shui, P. Zhi-yong, X. Xian-wu, D. Ying, and H. Shenghao, Chin. Phys, vol.16, p.548, 2007.

E. A. Marquis and J. M. Hyde, Mater. Sci. Eng. R Rep, vol.69, p.37, 2010.

A. Marzouki, F. Falyouni, N. Haneche, A. Lusson, P. Galtier et al.,

. Sallet, Mater. Lett, vol.64, p.2112, 2010.

B. K. Meyer, H. Alves, D. M. Hofmann, W. Kriegseis, and D. ,

F. Forster, J. Bertram, A. Christen, M. Hoffmann, M. Straßburg et al., Phys. Status Solidi B, vol.241, p.231, 2004.

B. Meyer, J. Sann, S. Lautenschläger, M. Wagner, and A. Hoffmann, Phys. Rev. B, vol.76, 2007.

B. K. Meyer, J. Sann, S. Eisermann, S. Lautenschlaeger, and M. R. ,

M. Wagner, G. Kaiser, J. S. Callsen, A. Reparaz, and . Hoffmann, Phys. Rev. B, vol.82, 2010.

M. K. Miller, A. Cerezo, M. G. Hetherington, and G. D. Frs, Atom Probe Field Ion Microscopy; Clarendon Press | Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, vol.52, 1996.

K. Minegishi, Y. Koiwai, Y. Kikuchi, K. Yano, M. Kasuga et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.36, p.1453, 1997.

E. V. Monakhov, A. Y. Kuznetsov, and B. G. Svensson, J. Phys

, Appl. Phys, vol.42, p.153001, 2009.

D. N. Montenegro, A. Souissi, C. Martínez-tomás, and V. ,

V. Muñoz-sanjosé and . Sallet, J. Cryst. Growth, vol.359, 2009.

H. Morkoç and Ü. Özgür, Zinc Oxide

&. Gmbh, . Co, and . Kgaa, , pp.131-244, 2009.

I. Mouton, R. Lardé, E. Talbot, E. Cadel, C. Genevois et al.,

V. Blavette, E. Baltz, P. Prestat, A. Bayle-guillemaud, M. Barski et al., J. Appl. Phys, vol.112, 1956.

E. W. Müller and K. Bahadur, Phys. Rev, vol.102, 1956.

E. W. Müller, J. A. Panitz, and S. B. Mclane, Rev. Sci. Instrum, vol.39, 1968.

M. A. Myers, M. T. Myers, M. J. General, J. H. Lee, L. Shao et al., Appl. Phys. Lett, vol.101, p.112101, 2012.

S. Nakamura, Jpn. J. Appl. Phys, vol.30, p.1705, 1991.

S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senoh, In NanowiresRecent Advances, vol.30, 1991.

X. Peng and . Ed, , 2010.

M. Ngamo, S. Duguay, P. Pichler, K. Daoud, and P. Pareige, Thin Solid Films, vol.518, p.2402, 2003.

J. R. Oppenheimer, ;. Orloff, L. Swanson, and M. Utlaut, High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications: Fib and Its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology, vol.31, 1928.

E. H. Otal, E. Sileo, M. H. Aguirre, I. O. Fabregas, and M. Kim, J. Alloys Compd, vol.622, 2005.

Ü. Özgür, Y. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov et al.,

V. Do?an, S. Avrutin, H. Cho, and . Morkoç, J. Appl. Phys, vol.98, 2001.

Z. W. Pan, Z. R. Dai, and Z. L. Wang, , 1947.

C. H. Park, S. B. Zhang, and S. Wei, Phys. Rev. B, vol.66, p.73202, 2002.

M. Im, D. C. Ito, M. W. Oh, T. Cho, and . Yao, Appl. Surf. Sci, vol.254, p.7972, 2008.

J. Y. Park, J. H. Lee, G. S. Raju, B. K. Moon, J. H. Jeong et al., Ceram. Int, vol.40, 2010.

G. Perillat-merceroz, P. H. Jouneau, G. Feuillet, R. Thierry, M. Rosina et al., J. Phys. Conf. Ser, vol.209, p.12034, 2010.

G. Perillat-merceroz, R. Thierry, P. Jouneau, P. Ferret, and G. Feuillet, Nanotechnology, vol.23, p.125702, 2012.

T. Philippe, F. De-geuser, S. Duguay, W. Lefebvre, O. Cojocaru-mirédin et al., Ultramicroscopy, vol.109, p.1304, 2009.

A. Podhorodecki, M. Banski, J. Misiewicz, J. Serafinczuk, and N. V. Gaponenko, J. Electrochem. Soc, vol.157, 2010.

V. Rakhesh, M. Bushiri, V. K. Vaidyan, J. Optoelectron, ;. Rakov et al., Opt. Mater. Express, vol.9, p.1803, 2007.

D. C. Reynolds, C. W. Litton, and T. C. Collins, Phys. Rev, vol.140, 1726.

J. R. Riley, R. A. Bernal, Q. Li, H. D. Espinosa, G. T. Wang et al., ACS Nano, vol.6, p.3898, 2012.

M. Roussel, W. Chen, E. Talbot, R. Lardé, E. Cadel et al., Nanoscale Res. Lett, vol.6, p.271, 2011.

M. Roussel, E. Talbot, C. Pareige, R. P. Nalini, F. Gourbilleau et al., Appl. Phys. Lett, vol.103, 2013.

T. Sakurai, R. J. Culbertson, and A. J. Melmed, Surf. Sci, vol.78, 1978.

D. Santhanagopalan, D. K. Schreiber, D. E. Perea, and R. L. ,

Y. Martens, P. Janssen, Y. S. Khalifah, and . Meng, Ultramicroscopy, vol.148, p.57, 2015.

M. Schirra, R. Schneider, A. Reiser, G. M. Prinz, and M. ,

J. Feneberg, U. Biskupek, C. E. Kaiser, K. Krill, and R. Thonke,

. Sauer, Phys. Rev. B, vol.77, 2008.

Y. Shen, X. Chen, X. Yan, F. Yi, Z. Bai et al., Curr. Appl. Phys, vol.14, p.345, 2014.

M. V. Shestakov, A. N. Baranov, V. K. Tikhomirov, and Y. ,

A. S. Zubavichus, A. A. Kuznetsov, A. Y. Veligzhanin, R. Kharin, V. Y. Rösslhuber et al., , p.8783, 2012.

E. P. Silaeva, L. Arnoldi, M. L. Karahka, B. Deconihout, A. Menand et al., Chin. Phys. B, vol.14, p.58104, 2014.

J. I. Sohn, Y. Jung, S. Baek, S. Cha, J. E. Jang et al.,

J. H. Cho, J. M. Kim, I. Kim, and . Park, Nanoscale, 2014.

A. Souissi, N. Haneche, A. Meftah, C. Sartel, C. Vilar et al., J. Lumin, vol.136, p.265, 2013.

I. Soumahoro, G. Schmerber, A. Douayar, S. Colis, M. Abdlefdil et al., J. Appl. Phys, vol.109, p.33708, 2011.

M. Stavola, Identification of Defects in Semiconductors

, Édition : 1, 1998.

J. Su, C. Tang, Q. Niu, C. Zang, Y. Zhang et al., Appl. Surf. Sci, vol.258, 2006.

J. W. Sun, Y. M. Lu, Y. C. Liu, D. Z. Shen, Z. Z. Zhang et al.,

J. Y. Li, B. Zhang, D. X. Yao, X. W. Zhao, and . Fan, Solid State Commun, vol.140, 2006.

J. C. Sun, H. W. Liang, J. Z. Zhao, J. M. Bian, Q. J. Feng et al.,

H. Q. Hu, X. P. Zhang, Y. M. Liang, G. T. Luo, and . Du, Chem. Phys. Lett, vol.460, 2008.

X. W. Sun, B. Ling, J. L. Zhao, S. T. Tan, Y. Yang et al., Appl. Phys. Lett, vol.95, 2009.

E. Talbot, R. Lardé, F. Gourbilleau, C. Dufour, and P. Pareige, EPL Europhys. Lett, vol.87, 2009.

E. Talbot, R. Lardé, P. Pareige, L. Khomenkova, K. Hijazi et al., Nanoscale Res. Lett, vol.8, p.39, 2013.

P. Tao, Q. Feng, J. Jiang, H. Zhao, R. Xu et al., Chem. Phys. Lett, vol.522, 2002.

B. Theys, V. Sallet, F. Jomard, A. Lusson, J. Rommeluère et al., J. Appl. Phys, vol.91, 1976.

T. T. Tsong, J. H. Block, M. Nagasaka, and B. Viswanathan, J. Chem. Phys, vol.65, 1976.

T. T. Tsong, Y. S. Ng, and A. J. Melmed, Surf. Sci, vol.77, 1978.

T. T. Tsong, S. B. Mclane, and T. J. Kinkus, Rev. Sci. Instrum, vol.53, p.1442, 1982.

A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino et al., Nat. Mater, vol.4, p.42, 2005.

F. Tuomisto, K. Saarinen, D. C. Look, and G. C. Farlow, Phys. Rev. B, vol.72, p.85206, 2005.

S. , Department of energy] energy.gov/science-innovation/science-technology, 2005.

V. Vaithianathan, B. Lee, and S. Kim, Appl. Phys. Lett, vol.86, p.62101, 2005.

V. Vaithianathan, B. Lee, and S. S. Kim, J. Appl. Phys, vol.98, p.43519, 2000.

C. G. Van-de-walle, Phys. Rev. Lett, vol.85, 1012.

C. G. Van-de-walle, Phys. B Condens. Matter, vol.899, pp.308-310, 2001.

R. Vidya, P. Ravindran, and H. Fjellvåg, J. Appl. Phys, vol.111, p.123713, 2012.

M. R. Wagner, Fundamental properties of excitons and phonons in ZnO: A spectroscopic study of the dynamics, polarity, and effects of external fields, Universitätsbibliothek, 2004.

Z. L. Wang-;-z, X. Y. Wang, J. M. Kong, and . Zuo, J. Phys. Condens. Matter, vol.16, p.829, 2003.

B. Wang, M. J. Callahan, L. O. Bouthillette, C. Xu, and M. J. ,

. Suscavage, J. Cryst. Growth, vol.287, 2006.

Z. P. Wei, Y. M. Lu, D. Z. Shen, Z. Z. Zhang, B. Yao et al., Z.K. Tang, Appl. Phys. Lett, vol.90, p.42113, 2007.

D. ,

C. B. Williams and . Carter, Transmission Electron Microscopy, 2008.

Z. Y. Xiao, Y. C. Liu, R. Mu, D. X. Zhao, and J. Y. Zhang, Appl. Phys. Lett, vol.92, 2008.

L. Yang, Y. Tang, A. Hu, X. Chen, K. Liang et al., Phys. B Condens. Matter, vol.403, 2008.

J. Yang, X. Li, J. Lang, L. Yang, M. Wei et al.,

R. Zhai, Y. Wang, J. Liu, and . Cao, Mater. Sci. Semicond. Process, vol.14, p.247, 2007.

J. D. Ye, S. L. Gu, F. Li, S. M. Zhu, R. Zhang et al.,

X. W. Zheng, G. Q. Sun, D. L. Lo, and . Kwong, Appl. Phys. Lett, vol.90, p.152108, 2007.

J. B. Yi, C. C. Lim, G. Z. Xing, H. M. Fan, L. H. Van et al.,

K. S. Huang, X. L. Yang, X. B. Huang, B. Y. Qin, and T. Wang,

L. Wu, H. T. Wang, X. Y. Zhang, T. Gao, A. T. Liu et al., Phys. Rev. Lett, vol.104, 2010.

. Zhao, Mater. Lett, vol.61, p.41, 2002.

A. Zeuner, H. Alves, D. M. Hofmann, B. K. Meyer, and A. ,

U. Hoffmann, M. Haboeck, M. Strassburg, . ;. Dworzak, S. Zhang et al., Phys. B Condens. Matter, vol.234, p.75205, 1999.

Q. Zhu, J. Zhang, and . Wu, Appl. Phys. Lett, vol.93, 2008.

M. Zheng and J. Wu, Appl. Surf. Sci, vol.255, 2009.

C. , Chem. Mater, vol.23, 2011.

A. Ziani, C. Davesnne, C. Labbé, J. Cardin, P. Marie et al.,

S. Frilay, X. Boudin, and . Portier, Thin Solid Films, vol.553, p.52, 2014.