Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique

Samh Khemiri; Moncef Kadi

Book Sections Year : 2020

Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique

(1, 2) , (1, 2)

1
2

Samh Khemiri

Function : Author

Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

Pôle Electronique et Systèmes

Moncef Kadi

Function : Author
PersonId : 173747
IdHAL : moncef-kadi
IdRef : 084533242

Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

Pôle Electronique et Systèmes

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Engineering Sciences [physics] Engineering Sciences [physics] Electric power Engineering Sciences [physics] Electronics

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Submitted on : Tuesday, September 8, 2020-3:05:47 PM

Last modification on : Thursday, March 10, 2022-10:46:02 AM

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hal-02933542 , version 1 (08-09-2020)

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HAL Id : hal-02933542 , version 1

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Samh Khemiri, Moncef Kadi. Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique. Les systèmes mécatroniques embarqués - 1 : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, ISTE - Edition, 2020, 9781784056476. ⟨hal-02933542⟩

Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique

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