Chapitre D'ouvrage
Année : 2020
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02933542
Soumis le : mardi 8 septembre 2020-15:05:47
Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02933542 , version 1
Citer
Samh Khemiri, Moncef Kadi. Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique. Les systèmes mécatroniques embarqués - 1 : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, ISTE - Edition, 2020, 9781784056476. ⟨hal-02933542⟩
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