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Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique

Samh Khemiri 1, 2 Moncef Kadi 1, 2
2 Pôle Electronique et Systèmes
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02933542
Contributor : Moncef Kadi <>
Submitted on : Tuesday, September 8, 2020 - 3:05:47 PM
Last modification on : Wednesday, September 9, 2020 - 3:33:48 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-02933542, version 1

Citation

Samh Khemiri, Moncef Kadi. Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique. Les systèmes mécatroniques embarqués - 1 : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, ISTE - Edition, 2020, 9781784056476. ⟨hal-02933542⟩

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