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Journal articles
A model to predict image formation in the three-dimensional field ion microscope
Benjamin Klaes
Rodrigue Lardé
1
Fabien Delaroche
1
Stefan Parviainen
1
Nicolas Rolland
1
Shyam Katnagallu
2
Baptiste Gault
2
François Vurpillot
1
Benjamin Klaes
Author
Rodrigue Lardé 1
Author IdHAL : rodrigue-larde
Fabien Delaroche 1
Author IdHAL : fabien-delaroche
Stefan Parviainen 1
Author
Nicolas Rolland 1
Author
Shyam Katnagallu 2
Author
Baptiste Gault 2
Author
François Vurpillot 1
Author IdHAL : francois-vurpillot
1
GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France)
2
Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH (Max-Planck Str. 1, 40237 Düsseldorf, Germany - Germany)
- Max-Planck-Gesellschaft (Jägerstrasse, 10-11, D-10117 Berlin - Germany)
Document type :
Journal articles
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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02571970
Contributor : François Vurpillot <>
Submitted on : Wednesday, May 13, 2020 - 12:20:27 PM
Last modification on : Thursday, May 14, 2020 - 1:27:21 AM
Contributor : François Vurpillot <>
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Last modification on : Thursday, May 14, 2020 - 1:27:21 AM
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Identifiers
- HAL Id : hal-02571970, version 1
- DOI : 10.1016/j.cpc.2020.107317
Collections
COMUE-NORMANDIE | GPM | INSA-ROUEN | UNIROUEN | INSA-GROUPE | CNRS
Citation
Benjamin Klaes, Rodrigue Lardé, Fabien Delaroche, Stefan Parviainen, Nicolas Rolland, et al.. A model to predict image formation in the three-dimensional field ion microscope. Computer Physics Communications, Elsevier, 2020, pp.107317. ⟨10.1016/j.cpc.2020.107317⟩. ⟨hal-02571970⟩
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