In Situ X-ray diffraction for a better understanding of industrial crystallization processes : the In-SituX technology - Normandie Université Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2017

In Situ X-ray diffraction for a better understanding of industrial crystallization processes : the In-SituX technology

Simon Clevers
Morgane Sanselme
Yohann Cartigny
Gérard Coquerel
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02432644 , version 1 (08-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02432644 , version 1

Citer

Simon Clevers, Morgane Sanselme, Yohann Cartigny, Gérard Coquerel. In Situ X-ray diffraction for a better understanding of industrial crystallization processes : the In-SituX technology. Journées de la division Chimie du Solide - SCF, Nov 2017, Montpellier, France. ⟨hal-02432644⟩
17 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More