Poster De Conférence
Année : 2017
Yohann CARTIGNY : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02432644
Soumis le : mercredi 8 janvier 2020-15:28:36
Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-15:56:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02432644 , version 1
Citer
Simon Clevers, Morgane Sanselme, Yohann Cartigny, Gérard Coquerel. In Situ X-ray diffraction for a better understanding of industrial crystallization processes : the In-SituX technology. Journées de la division Chimie du Solide - SCF, Nov 2017, Montpellier, France. ⟨hal-02432644⟩
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