In-situ X-ray diffraction for a better understanding od industrial crystallization processes : the InsituX technology

Yohann Cartigny; Simon Clevers; Morgane Sanselme; Gérard Coquerel

Poster De Conférence Année : 2017

In-situ X-ray diffraction for a better understanding od industrial crystallization processes : the InsituX technology

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Yohann Cartigny

Fonction : Auteur
PersonId : 178499
IdHAL : yohann-cartigny
ORCID : 0000-0002-8220-2209
IdRef : 083826440

Sciences et Méthodes Séparatives

Simon Clevers

Fonction : Auteur
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IdHAL : simon-clevers
ORCID : 0000-0002-1377-1141
IdRef : 253124638

Sciences et Méthodes Séparatives

CV

Morgane Sanselme

Fonction : Auteur
PersonId : 178503
IdHAL : morgane-sanselme

Sciences et Méthodes Séparatives

Gérard Coquerel

Fonction : Auteur
PersonId : 170836
IdHAL : gerard-coquerel
ORCID : 0000-0001-8977-8676
IdRef : 069151113

Sciences et Méthodes Séparatives

Domaines

Cristallographie Matériaux Chimie inorganique Génie des procédés Matériaux

Yohann CARTIGNY : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://normandie-univ.hal.science/hal-02432624

Soumis le : mercredi 8 janvier 2020-15:22:30

Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-15:56:05

Dates et versions

hal-02432624 , version 1 (08-01-2020)

Identifiants

HAL Id : hal-02432624 , version 1

Citer

Yohann Cartigny, Simon Clevers, Morgane Sanselme, Gérard Coquerel. In-situ X-ray diffraction for a better understanding od industrial crystallization processes : the InsituX technology. SFGP XVI, Jul 2017, Nancy, France. ⟨hal-02432624⟩

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