Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
Francois Fouquet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02407378
Soumis le : jeudi 12 décembre 2019-14:53:18
Dernière modification le : vendredi 22 décembre 2023-15:16:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02407378 , version 1
Citer
Mbarek Safa, Pascal Dherbécourt, François Fouquet, Olivier Latry. Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques. Télécom & JFMMA, 2015, Meknès, Maroc. ⟨hal-02407378⟩
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