Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques

Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02407378
Contributor : Francois Fouquet <>
Submitted on : Thursday, December 12, 2019 - 2:53:18 PM
Last modification on : Tuesday, May 26, 2020 - 4:54:22 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-02407378, version 1

Citation

Mbarek Safa, Pascal Dherbécourt, François Fouquet, Olivier Latry. Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques. Télécom & JFMMA, 2015, Meknès, Maroc. ⟨hal-02407378⟩

Share

Metrics

Record views

27