https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02407378 Contributor : Francois FouquetConnect in order to contact the contributor Submitted on : Thursday, December 12, 2019 - 2:53:18 PM Last modification on : Thursday, March 10, 2022 - 10:46:02 AM
Mbarek Safa, Pascal Dherbécourt, François Fouquet, Olivier Latry. Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques. Télécom & JFMMA, 2015, Meknès, Maroc. ⟨hal-02407378⟩