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Communication dans un congrès
Estimation of MOSFET Degradation Inside a DC DC Converter Using Joint Kalman Filtering
Ahmad Alyakhni
Auteur
Ahmad Al-Mohamad
Mail :
Auteur IdHAL : ahmad-al-mohamad
Ghaleb Hoblos 1
Mail :
Auteur IdHAL : ghaleb-hoblos ORCID : https://orcid.org/0000-0003-3268-5270
1
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
Liste complète des métadonnées
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02331247
Contributeur : Ghaleb Hoblos <>
Soumis le : jeudi 24 octobre 2019 - 12:26:35
Dernière modification le : lundi 25 mai 2020 - 16:45:46
Contributeur : Ghaleb Hoblos <>
Soumis le : jeudi 24 octobre 2019 - 12:26:35
Dernière modification le : lundi 25 mai 2020 - 16:45:46
Identifiants
- HAL Id : hal-02331247, version 1
Collections
COMUE-NORMANDIE | ESIGELEC | UNIROUEN | IRSEEM | TDS-MACS
Citation
Ahmad Alyakhni, Ahmad Al-Mohamad, Ghaleb Hoblos. Estimation of MOSFET Degradation Inside a DC DC Converter Using Joint Kalman Filtering. 4th International Conference on Control and Fault-Tolerant Systems, Sep 2019, Casablanca, Morocco. ⟨hal-02331247⟩
Métriques
Consultations de la notice
