Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress

A Alaeddine; C. Genevois; Moncef Kadi; F. Cuvilly; K. Daoud

doi:10.1088/0268-1242/26/2/025003

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Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress

A Alaeddine C. Genevois ¹ Moncef Kadi ² F. Cuvilly ³ K. Daoud ³

1 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation

2 Pôle Electronique et Systèmes

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

3 GPM - Groupe de physique des matériaux

A Alaeddine
Author

C. Genevois ¹
Author

Moncef Kadi ²
Author
PersonId : 173747
IdHAL : moncef-kadiIdRef : 084533242

F. Cuvilly ³
Author
PersonId : 175167
IdHAL : fabien-cuvillyIdRef : 250409429

K. Daoud ³
Author

1 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation (Site Cyclotron, CS 30058, 3A rue de la Férolerie, 45071 Orléans Cedex 2 Site Haute Température, CS 90055, 1D avenue de la Recherche Scientifique, 45071 Orléans Cedex 2 - France) StructId : 53795

UO - Université d'Orléans : UPR 3079 (Château de la Source - Avenue du Parc Floral - BP 6749 - 45067 Orléans cedex 2 - France) StructId : 300297
INC - Institut de Chimie du CNRS (3 Rue Michel-Ange 75 016 Paris - France) StructId : 341038
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UPR 3079 (France) StructId : 441569

2 Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 569794

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 101325
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
  - NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

3 GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 970

UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 301288
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France) StructId : 301232
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France) StructId : 441569

Document type :

Journal articles

Domain :

Physics [physics]

Engineering Sciences [physics]

Complete list of metadata

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02308187
Contributor : Moncef KADI Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Tuesday, October 8, 2019 - 1:08:37 PM
Last modification on : Thursday, March 10, 2022 - 10:46:02 AM

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HAL Id : hal-02308187, version 1
DOI : 10.1088/0268-1242/26/2/025003

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A Alaeddine, C. Genevois, Moncef Kadi, F. Cuvilly, K. Daoud. Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2011, 26 (2), pp.025003. ⟨10.1088/0268-1242/26/2/025003⟩. ⟨hal-02308187⟩

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