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Journal articles
Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress
A Alaeddine
Author
C. Genevois 1
Author
Moncef Kadi 2
Author IdHAL : moncef-kadi
F. Cuvilly 3
Author IdHAL : fabien-cuvilly
K. Daoud 3
Author
1
CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation (Site Cyclotron, CS 30058, 3A rue de la Férolerie, 45071 Orléans Cedex 2
Site Haute Température, CS 90055, 1D avenue de la Recherche Scientifique, 45071 Orléans Cedex 2 - France)
- UO - Université d'Orléans : UPR 3079 (Château de la Source - Avenue du Parc Floral - BP 6749 - 45067 Orléans cedex 2 - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UPR 3079 (France)
2
Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
3
GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France)
Document type :
Journal articles
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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02308187
Contributor : Moncef Kadi <>
Submitted on : Tuesday, October 8, 2019 - 1:08:37 PM
Last modification on : Wednesday, October 9, 2019 - 1:34:42 AM
Contributor : Moncef Kadi <>
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Last modification on : Wednesday, October 9, 2019 - 1:34:42 AM
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Identifiers
- HAL Id : hal-02308187, version 1
- DOI : 10.1088/0268-1242/26/2/025003
Collections
COMUE-NORMANDIE | ESIGELEC | UNIROUEN | IRSEEM | CNRS | GPM | UNIV-ORLEANS | INSA-ROUEN | INSA-GROUPE | CEMHTI
Citation
A Alaeddine, C. Genevois, Moncef Kadi, F. Cuvilly, K. Daoud. Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2011, 26 (2), pp.025003. ⟨10.1088/0268-1242/26/2/025003⟩. ⟨hal-02308187⟩
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