Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress

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Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : mardi 8 octobre 2019 - 13:08:37
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:34:42

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A Alaeddine, C. Genevois, Moncef Kadi, F. Cuvilly, K. Daoud. Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2011, 26 (2), pp.025003. ⟨10.1088/0268-1242/26/2/025003⟩. ⟨hal-02308187⟩

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