Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress

A Alaeddine; C. Genevois; Moncef Kadi; F. Cuvilly; K. Daoud

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Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress

A Alaeddine C. Genevois ¹ Moncef Kadi ² F. Cuvilly ³ K. Daoud ³

1 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation

2 Pôle Electronique et Systèmes

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

3 GPM - Groupe de physique des matériaux

A Alaeddine AuthorId : 1372484
Auteur

C. Genevois ¹ AuthorId : 173346
Auteur

Moncef Kadi ² AuthorId : 1647347

Auteur IdHAL : moncef-kadi

F. Cuvilly ³ AuthorId : 1182177

Auteur IdHAL : fabien-cuvilly

K. Daoud ³ AuthorId : 11321309
Auteur

1 CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation (Site Cyclotron, CS 30058, 3A rue de la Férolerie, 45071 Orléans Cedex 2 Site Haute Température, CS 90055, 1D avenue de la Recherche Scientifique, 45071 Orléans Cedex 2 - France) StructId : 53795

UO - Université d'Orléans : UPR 3079 (Château de la Source - Avenue du Parc Floral - BP 6749 - 45067 Orléans cedex 2 - France) StructId : 300297
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UPR 3079 (France) StructId : 441569

2 Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 569794

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 101325
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
  - NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

3 GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 970

UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 301288
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France) StructId : 301232
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France) StructId : 441569

Type de document :

Article dans une revue

Domaine :

Physique [physics]

Sciences de l'ingénieur [physics]

Liste complète des métadonnées

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02308187
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : mardi 8 octobre 2019 - 13:08:37
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:34:42

Lien texte intégral

Identifiants

HAL Id : hal-02308187, version 1
DOI : 10.1088/0268-1242/26/2/025003

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Citation

A Alaeddine, C. Genevois, Moncef Kadi, F. Cuvilly, K. Daoud. Degradation of Au–Ti contacts of SiGe HBTs during electromagnetic field stress. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2011, 26 (2), pp.025003. ⟨10.1088/0268-1242/26/2/025003⟩. ⟨hal-02308187⟩

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