Performance and structure degradations of SiGe HBT after electromagnetic field stress

Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02307309
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 14:44:43
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

Identifiants

Citation

A. Alaeddine, Moncef Kadi, K. Daoud. Performance and structure degradations of SiGe HBT after electromagnetic field stress. 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2011, Monterey, United States. pp.CD.1.1-CD.1.6, ⟨10.1109/IRPS.2011.5784555⟩. ⟨hal-02307309⟩

Partager

Métriques

Consultations de la notice

5