Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory

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Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 11:22:17
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

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Citation

I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, C. Maziere, A. Louis, et al.. Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory. Electronics Letters, IET, 2006, 42 (18), pp.1022. ⟨10.1049/el:20061903⟩. ⟨hal-02307005⟩

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