Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory - Normandie Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2006

Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory

I. Chahine
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
Moncef Kadi
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
CV
E. Gaboriaud
  • Fonction : Auteur
C. Maziere
  • Fonction : Auteur
A. Louis
  • Fonction : Auteur
B. Mazari
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

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Soumis le : lundi 7 octobre 2019-11:22:17

Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02

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Dates et versions

hal-02307005 , version 1 (07-10-2019)

Identifiants

Citer

I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, C. Maziere, A. Louis, et al.. Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory. Electronics Letters, 2006, 42 (18), pp.1022. ⟨10.1049/el:20061903⟩. ⟨hal-02307005⟩

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