Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances - Normandie Université Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IET Science Measurement and Technology Année : 2007

Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances

I. Chahine
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
Moncef Kadi
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
CV
E. Gaboriaud
  • Fonction : Auteur
X. Gallenne
  • Fonction : Auteur
A. Louis
  • Fonction : Auteur
B. Mazari
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://normandie-univ.hal.science/hal-02306991

Soumis le : lundi 7 octobre 2019-11:19:00

Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02

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Dates et versions

hal-02306991 , version 1 (07-10-2019)

Identifiants

Citer

I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, X. Gallenne, A. Louis, et al.. Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances. IET Science Measurement and Technology, 2007, 1 (5), pp.240-244. ⟨10.1049/iet-smt:20060142⟩. ⟨hal-02306991⟩

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