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Article dans une revue
Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances
I. Chahine 1
Auteur
Moncef Kadi 1
Mail :
Auteur IdHAL : moncef-kadi
E. Gaboriaud
Auteur
X. Gallenne
Auteur
1
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
Liste complète des métadonnées
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306991
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 11:19:00
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 11:19:00
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29
Identifiants
- HAL Id : hal-02306991, version 1
- DOI : 10.1049/iet-smt:20060142
Collections
Citation
I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, X. Gallenne, A. Louis, et al.. Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances. IET Science Measurement and Technology, Institution of Engineering and Technology, 2007, 1 (5), pp.240-244. ⟨10.1049/iet-smt:20060142⟩. ⟨hal-02306991⟩
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