Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances

I. Chahine; Moncef Kadi; E. Gaboriaud; X. Gallenne; A. Louis; B. Mazari

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I. Chahine ¹ Moncef Kadi ¹ E. Gaboriaud X. Gallenne A. Louis B. Mazari ¹

1 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

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Article dans une revue

Domaine :

Physique [physics]

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306991
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 11:19:00
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

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