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Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances

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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306991
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 11:19:00
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

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Citation

I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, X. Gallenne, A. Louis, et al.. Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances. IET Science Measurement and Technology, Institution of Engineering and Technology, 2007, 1 (5), pp.240-244. ⟨10.1049/iet-smt:20060142⟩. ⟨hal-02306991⟩

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