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Journal articles
Effects of electromagnetic near-field stress on SiGe HBT’s reliability
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IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
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GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France)
Document type :
Journal articles
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https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306966
Contributor : Moncef Kadi <>
Submitted on : Monday, October 7, 2019 - 11:07:29 AM
Last modification on : Wednesday, October 9, 2019 - 1:37:29 AM
Contributor : Moncef Kadi <>
Submitted on : Monday, October 7, 2019 - 11:07:29 AM
Last modification on : Wednesday, October 9, 2019 - 1:37:29 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-02306966, version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2009.07.014
Collections
COMUE-NORMANDIE | CNRS | GPM | INSA-ROUEN | ESIGELEC | UNIROUEN | INSA-GROUPE | IRSEEM
Citation
A. Alaeddine, Moncef Kadi, K. Daoud, B. Mazari. Effects of electromagnetic near-field stress on SiGe HBT’s reliability. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2009, 49 (9-11), pp.1029-1032. ⟨10.1016/j.microrel.2009.07.014⟩. ⟨hal-02306966⟩
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