Modeling IC Snapback Characteristics Under Electrostatic Discharge Stress

Abhishek Ramanujan; Moncef Kadi; Jean Trémenbert; Frédéric Lafon; Bélahcène Mazari

doi:10.1109/TEMC.2009.2029092

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Modeling IC Snapback Characteristics Under Electrostatic Discharge Stress

Abhishek Ramanujan ^{1, 2} Moncef Kadi ² Jean Trémenbert Frédéric Lafon ³ Bélahcène Mazari ⁴

1 VALEO

2 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

3 IETR - Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes

4 IRISE/CESI

Abhishek Ramanujan ^{1, 2}
Author

Moncef Kadi ²
Author
PersonId : 173747
IdHAL : moncef-kadiIdRef : 084533242

Jean Trémenbert
Author

Frédéric Lafon ³
Author

Bélahcène Mazari ⁴
Author
PersonId : 967464

1 VALEO (43, Rue Bayen, 75017 Paris - France) StructId : 552452

2 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 101325

UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

3 IETR - Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (Campus de Beaulieu Bâtiment 11D 35042 Rennes Cedex - France) StructId : 3195

UR1 - Université de Rennes 1 (2 rue du Thabor - CS 46510 - 35065 Rennes cedex - France) StructId : 105160
- UNIV-RENNES - Université de Rennes (France) StructId : 528860
INSA Rennes - Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (20, avenue des Buttes de Coësmes - CS 70839 - 35708 Rennes cedex 7 - France) StructId : 117606
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France) StructId : 301232
- UNIV-RENNES - Université de Rennes (France) StructId : 528860
Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE) (France) StructId : 303397
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6164 (France) StructId : 441569

4 IRISE/CESI (France) StructId : 421884

Document type :

Journal articles

Domain :

Physics [physics]

Engineering Sciences [physics]

Complete list of metadata

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306961
Contributor : Moncef KADI Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, October 7, 2019 - 11:05:22 AM
Last modification on : Sunday, April 17, 2022 - 3:05:14 AM

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HAL Id : hal-02306961, version 1
DOI : 10.1109/TEMC.2009.2029092

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Abhishek Ramanujan, Moncef Kadi, Jean Trémenbert, Frédéric Lafon, Bélahcène Mazari. Modeling IC Snapback Characteristics Under Electrostatic Discharge Stress. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 51 (4), pp.901-908. ⟨10.1109/TEMC.2009.2029092⟩. ⟨hal-02306961⟩

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