Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02306929
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-10:48:32
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02306929 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2013.07.077
Citer
F. Zhu, F. Fouquet, B. Ravelo, A. Alaeddine, Moncef Kadi. Experimental investigation of Zener diode reliability under pulsed Electrical Overstress (EOS). Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1288-1292. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.077⟩. ⟨hal-02306929⟩
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