Chapitre D'ouvrage
Année : 2015
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02306903
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-10:36:38
Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02306903 , version 1
- DOI : 10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1
Citer
Samh Khemiri, Moncef Kadi. Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress. Embedded Mechatronic Systems 1, Elsevier, pp.141-164, 2015, ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1⟩. ⟨hal-02306903⟩
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