Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress

Samh Khemiri 1 Moncef Kadi 1
1 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
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Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:36:38
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

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Samh Khemiri, Moncef Kadi. Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress. Embedded Mechatronic Systems 1, Elsevier, pp.141-164, 2015, ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1⟩. ⟨hal-02306903⟩

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