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Chapitre d'ouvrage
Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress
Samh Khemiri 1
Auteur
Moncef Kadi 2
Mail :
Auteur IdHAL : moncef-kadi
1
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
2
Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
Type de document :
Chapitre d'ouvrage
Liste complète des métadonnées
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306903
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:36:38
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 15:15:56
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:36:38
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 15:15:56
Identifiants
- HAL Id : hal-02306903, version 1
- DOI : 10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1
Collections
Citation
Samh Khemiri, Moncef Kadi. Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress. Embedded Mechatronic Systems 1, Elsevier, pp.141-164, 2015, ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1⟩. ⟨hal-02306903⟩
Métriques
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