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Chapitre d'ouvrage

Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress

Samh Khemiri 1 Moncef Kadi 2
2 Pôle Electronique et Systèmes
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
Type de document :
Chapitre d'ouvrage
Liste complète des métadonnées

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306903
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:36:38
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 15:15:56

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Citation

Samh Khemiri, Moncef Kadi. Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress. Embedded Mechatronic Systems 1, Elsevier, pp.141-164, 2015, ⟨10.1016/B978-1-78548-013-3.50006-1⟩. ⟨hal-02306903⟩

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