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Communication dans un congrès

High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations

Fahim Hami Habib Boulzazen 1 Moncef Kadi 1
1 Pôle Electronique et Systèmes
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306892
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:28:40
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 16:30:33

Identifiants

Citation

Fahim Hami, Habib Boulzazen, Moncef Kadi. High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations. 2015 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2015, Pisa, Italy. pp.334-339, ⟨10.1109/I2MTC.2015.7151290⟩. ⟨hal-02306892⟩

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