High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations

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Communication dans un congrès
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Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:28:40
Dernière modification le : mercredi 9 octobre 2019 - 01:37:29

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Fahim Hami, Habib Boulzazen, Moncef Kadi. High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations. 2015 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2015, Pisa, Italy. pp.334-339, ⟨10.1109/I2MTC.2015.7151290⟩. ⟨hal-02306892⟩

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