High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations - Normandie Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations

Fahim Hami
  • Fonction : Auteur
Habib Boulzazen
Pôle Electronique et Systèmes
Moncef Kadi
Pôle Electronique et Systèmes
CV

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

Moncef KADI  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://normandie-univ.hal.science/hal-02306892

Soumis le : lundi 7 octobre 2019-10:28:40

Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02306892 , version 1 (07-10-2019)

Identifiants

Citer

Fahim Hami, Habib Boulzazen, Moncef Kadi. High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations. 2015 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2015, Pisa, Italy. pp.334-339, ⟨10.1109/I2MTC.2015.7151290⟩. ⟨hal-02306892⟩

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