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Communication dans un congrès
High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations
Fahim Hami
Auteur
Habib Boulzazen 1
Mail :
Auteur IdHAL : habib-boulzazen
Moncef Kadi 1
Mail :
Auteur IdHAL : moncef-kadi
1
Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306892
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:28:40
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 16:30:33
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:28:40
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 16:30:33
Identifiants
- HAL Id : hal-02306892, version 1
- DOI : 10.1109/I2MTC.2015.7151290
Collections
Citation
Fahim Hami, Habib Boulzazen, Moncef Kadi. High frequency characterization and modeling via measurements of power electronic capacitors under high bias voltage and temperature variations. 2015 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), May 2015, Pisa, Italy. pp.334-339, ⟨10.1109/I2MTC.2015.7151290⟩. ⟨hal-02306892⟩
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