Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02306848
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-10:10:02
Dernière modification le : vendredi 22 décembre 2023-15:16:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02306848 , version 1
- DOI : 10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539
Citer
J-Z. Fu, F. Fouquet, Moncef Kadi, Pascal Dherbécourt. Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests. 2018 1st Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), May 2018, Xi'an, China. pp.189-193, ⟨10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539⟩. ⟨hal-02306848⟩
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