 |
Communication dans un congrès
Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests
J-Z. Fu 1, 2
Auteur
F. Fouquet 3, 2
Mail :
Auteur IdHAL : francois-fouquet
Moncef Kadi 3
Mail :
Auteur IdHAL : moncef-kadi
Pascal Dherbécourt 4
Mail :
Auteur IdHAL : pascal-dherbecourt ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9110-358X
1
ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
2
IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
3
Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
4
GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France)
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France)
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France)
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France)
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306848
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:10:02
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 16:50:33
Contributeur : Moncef Kadi <>
Soumis le : lundi 7 octobre 2019 - 10:10:02
Dernière modification le : mardi 26 mai 2020 - 16:50:33
Identifiants
- HAL Id : hal-02306848, version 1
- DOI : 10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539
Collections
COMUE-NORMANDIE | CNRS | GPM | INSA-ROUEN | ESIGELEC | UNIROUEN | INSA-GROUPE | IRSEEM
Citation
J-Z. Fu, F. Fouquet, Moncef Kadi, Pascal Dherbécourt. Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests. 2018 1st Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), May 2018, Xi'an, China. pp.189-193, ⟨10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539⟩. ⟨hal-02306848⟩
Métriques
Consultations de la notice
