Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests

J-Z. Fu; F. Fouquet; Moncef Kadi; Pascal Dherbécourt

doi:10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539

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Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests

J-Z. Fu ^{1, 2} F. Fouquet ^{3, 2} Moncef Kadi ³ Pascal Dherbécourt ⁴

1 ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique

2 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

3 Pôle Electronique et Systèmes

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués

4 GPM - Groupe de physique des matériaux

J-Z. Fu ^{1, 2}
Author

F. Fouquet ^{3, 2}
Author
PersonId : 177742
IdHAL : francois-fouquetIdRef : 139769846

Moncef Kadi ³
Author
PersonId : 173747
IdHAL : moncef-kadiIdRef : 084533242

Pascal Dherbécourt ⁴
Author
PersonId : 175161
IdHAL : pascal-dherbecourtORCID : 0000-0001-9110-358XIdRef : 069275483

1 ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

2 IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 101325

UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

3 Pôle Electronique et Systèmes (IRSEEM - Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 569794

IRSEEM - Institut de Recherche en Systèmes Electroniques Embarqués (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée BP 10024 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 101325
- UNIROUEN - Université de Rouen Normandie : EA 4353 (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
  - NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
- ESIGELEC - École Supérieure d’Ingénieurs en Génie Électrique (Technopôle du Madrillet - Avenue Galilée - BP 10024 - 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 318576

4 GPM - Groupe de physique des matériaux (Avenue de l'Université, BP 08, 76801 Saint-Etienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 970

UNIROUEN - Université de Rouen Normandie (1, rue Thomas Becket 76821 Mont-Saint-Aignan Cedex - France) StructId : 300318
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
INSA Rouen Normandie - Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (Avenue de l’Université 76801 Saint-Étienne-du-Rouvray Cedex - France) StructId : 301288
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France) StructId : 301232
- NU - Normandie Université (Esplanade de la Paix - CS 14032 - 14032 Caen Cedex 5 - France) StructId : 455934
CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6634 (France) StructId : 441569

Document type :

Conference papers

Domain :

Physics [physics]

Engineering Sciences [physics]

Complete list of metadata

https://hal-normandie-univ.archives-ouvertes.fr/hal-02306848
Contributor : Moncef KADI Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, October 7, 2019 - 10:10:02 AM
Last modification on : Thursday, March 10, 2022 - 10:46:02 AM

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HAL Id : hal-02306848, version 1
DOI : 10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539

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J-Z. Fu, F. Fouquet, Moncef Kadi, Pascal Dherbécourt. Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests. 2018 1st Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), May 2018, Xi'an, China. pp.189-193, ⟨10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539⟩. ⟨hal-02306848⟩

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