, Science, vol.267, pp.51-55, 1995.
, Science, vol.272, pp.1751-1752, 1996.
, Nano Energy, vol.11, pp.104-109, 2015.
, Microelectronics Reliability, vol.51, pp.2168-2172, 2011.
, Semicond. Sci. Technol, vol.22, pp.511-516, 2007.
, Nanotechnol. Lett, vol.2, pp.89-95, 2010.
, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, vol.307, pp.89-92, 2013.
, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, vol.372, pp.29-37, 2016.
, J. Mater. Res, vol.7, pp.1564-1583, 1992.
, J. Phys. D : Appl. Phys, vol.38, pp.393-413, 2005.
, Appl. Phys. Lett, vol.80, pp.383-385, 2002.
, Appl. Phys. Lett, vol.87, p.191911, 2005.
, Mater. Sci. Eng, vol.33, pp.51-107, 2001.
, Thin Solid Films, vol.515, pp.1000-1004, 2006.
, Thin Solid Films, vol.515, pp.3011-3018, 2007.
, Appl. Surf. Sci, vol.254, pp.1997-2002, 2008.
Étude des modifications induits dans les semiconducteurs AlxGa1?xN par irradiation aux ions lourds de hauteénergie, 2016. ,
, J. Vac. Sci. Technol. B, vol.10, pp.1237-1166, 1992.
, J. Appl. Phys, vol.86, pp.1-78, 1999.
, Astronomy and Astrophysics, vol.415, pp.203-215, 2004.
, J. Appl. Phys, vol.95, pp.5360-5365, 2004.
, J. Mater. Sci, vol.50, pp.5214-5227, 2015.
, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, vol.381, pp.39-44, 2016.
, Surf. Coat. Technol, pp.417-424, 2000.