Interpreting the Presence of an Additional Oxide Layer in Analysis of Metal Oxides–Metal Interfaces in Atom Probe Tomography

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Contributeur : Frédéric Danoix <>
Soumis le : mardi 23 avril 2019 - 12:00:10
Dernière modification le : mercredi 7 août 2019 - 14:34:15

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Citation

Mukesh Bachhav, Gorakh Pawar, François Vurpillot, Raphaële Danoix, Béatrice Hannoyer, et al.. Interpreting the Presence of an Additional Oxide Layer in Analysis of Metal Oxides–Metal Interfaces in Atom Probe Tomography. Journal of Physical Chemistry C, American Chemical Society, 2018, 123 (2), pp.1313-1319. ⟨10.1021/acs.jpcc.8b10895⟩. ⟨hal-02106738⟩

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