Method of measuring scattering of x-rays, its applications and implementation device - Normandie Université Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2012

Method of measuring scattering of x-rays, its applications and implementation device

Gérard Coquerel
Sciences et Méthodes Séparatives
Morgane Sanselme
Sciences et Méthodes Séparatives
Anaïs Lafontaine
  • Fonction : Auteur
Sciences et Méthodes Séparatives

Domaines

Matériaux Cristallographie Chimie organique

Aurélien Lemercier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://normandie-univ.hal.science/hal-01949471

Soumis le : lundi 10 décembre 2018-10:40:58

Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-15:56:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01949471 , version 1 (10-12-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01949471 , version 1

Citer

Gérard Coquerel, Morgane Sanselme, Anaïs Lafontaine. Method of measuring scattering of x-rays, its applications and implementation device. France, Patent n° : EP2694953A1. 2012. ⟨hal-01949471⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

COMUE-NORMANDIE UNIROUEN LABO-SMS
49 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More