Development of a new X-ray diffractometer in a reflexion mode -θ/-θ for in situ characterization during crystallization processes - Normandie Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Development of a new X-ray diffractometer in a reflexion mode -θ/-θ for in situ characterization during crystallization processes

A. Lafontaine
  • Fonction : Auteur
Sciences et Méthodes Séparatives
Y. Cartigny
Sciences et Méthodes Séparatives
M. Sanselme
Sciences et Méthodes Séparatives
G. Coquerel
Sciences et Méthodes Séparatives

Domaines

Chimie Matériaux Cristallographie Chimie organique

Aurélien Lemercier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://normandie-univ.hal.science/hal-01941076

Soumis le : vendredi 30 novembre 2018-16:43:02

Dernière modification le : mercredi 9 mars 2022-15:56:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01941076 , version 1 (30-11-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01941076 , version 1

Citer

A. Lafontaine, Y. Cartigny, M. Sanselme, G. Coquerel. Development of a new X-ray diffractometer in a reflexion mode -θ/-θ for in situ characterization during crystallization processes. ISIC-19 (International Symposium on Industrial Crystallization), Sep 2014, Toulouse, France. ⟨hal-01941076⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

COMUE-NORMANDIE UNIROUEN LABO-SMS
9 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More