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Bienvenue sur la collection HAL du laboratoire CROMA
CROMA (Centre de Radiofréquences Optique et Micro-Nanoélectronique des Alpes), anciennement IMEP-LAHC, est une Unité Mixte de Recherche "UMR 5130" (CNRS / Grenoble INP / UGA / Université SAVOIE Mont-Blanc), fortement impliquée dans les recherches relatives à la micro et nano électronique, à la microphotonique, aux micro et nano-systèmes, aux microondes et optomicroondes.
Les activités de recherche sont regroupées autour de 3 équipes : Dispositifs HypeRfréquences pour l'Electronique durAble et les Milieux complexeS (DHREAMS), Composants Micro Nano Electroniques (CMNE) et PHOtonique, Térahertz et Optoélectronique (PHOTO).
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2 958
Mots clés
Piezoelectricity
SOI
Integrated optics
Nanostructures
Coplanar waveguide
Interface trap density
Optoelectronics
Z2-FET
A2RAM
AlGaN/GaN
Metal gate
Elemental semiconductors
Authentication
Modélisation
Fd-Soi
Silicon-on-insulator SOI
Compact model
Modelling
DRAM
Compact modeling
Low frequency noise
CMOS integrated circuits
Electrical characterization
Fiabilité
FinFET
Transistor MOS
Threshold voltage
Antenna
Carrier mobility
GaN
Band-to-band tunneling
Mobilité
Pseudo-MOSFET
Random Telegraph Noise
Caractérisation
TCAD
Capacitance
Ion exchange
Nanowires
Tunnel FET
CMOS
Nanogenerators
Optique intégrée
MOSFETs
Metamaterials
Nanonet
Silicon-on-insulator
Low-frequency noise LFN
Reliability
Energy harvesting
FD-SOI
Permittivity
Mechanical energy harvesting
Nanofil
SiGe
Graphene
Sharp switch
Low-frequency noise
MOS transistor
FDSOI
ZnO
Silicon
Microélectronique
Fdsoi
Radiofréquences
BTI
Terahertz
Biosensor
Silicon carbide
Modeling
Nanowire
Mobility
Intégration 3D
Parameter extraction
HfO2
Rectenna
Band modulation
DNA
Simulation
Variabilité
Magnetoresistance
Low temperature
ESD
Variability
Numerical simulation
1T-DRAM
Caractérisation électrique
MOSFET
Antenne
TFET
Coupling
Solar cell
Drain current
Silicon nanowire
Field effect transistors
Mosfet
Mismatch
Air-filled substrate integrated waveguide AFSIW
2DEG
Characterization